MIT Co., Ltd. | 韓國半導體檢測設備製造商

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MIT Co., Ltd. 的半導體檢測設備

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About MIT

MIT Co., Ltd.（Mechatronics Inspection Technology，韓國）在先進半導體與功率半導體領域，開發並製造用於檢測記憶體與封裝內部缺陷的自動化檢測設備。

關於我們 →

韓國專利第 10-3003444 號
韓國專利第 10-3003443 號
韓國專利第 10-2988360 號
韓國專利第 10-2964552 號
韓國專利第 10-2964546 號
韓國專利第 10-2839682 號
韓國專利第 10-2839680 號
韓國國家研發優秀成果 100 選
韓國優秀企業附設研究所指定證書
MIT ISO 45001
韓國智慧財產處處長表揚狀
韓國專利第 10-2694849 號
韓國專利第 10-2694850 號
IR52 蔣英實獎
韓國專利第 10-2653610 號
韓國中小新創企業部部長獎
優秀技術大獎
韓國科學技術資訊通信部部長表揚狀
韓國鐵塔產業勳章
韓國專利第 10-2631897 號
韓國專利第 10-2552909 號
韓國專利第 10-2548831 號
韓國專利第 10-2539709 號
韓國專利第 10-2535534 號

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